X射线能量谱间接测量方法

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X射线能量谱间接测量方法

光学测量 | 更新时间：2025-09-01

- X射线能量谱间接测量方法
- Indirect measurement of X-ray spectrum
- 光学技术 2008年第4期页码：503-508
- 作者机构：
  
  1:首都师范大学检测成像实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(60472071);北京市自然科学基金(4051002)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2008
- 稿件说明：
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邹晶, 王建光, 王文彬, 等. X射线能量谱间接测量方法[J]. 光学技术, 2008,(4):503-508.

Indirect measurement of X-ray spectrum[J]. 2008, (4): 503-508.
邹晶, 王建光, 王文彬, 等. X射线能量谱间接测量方法[J]. 光学技术, 2008,(4):503-508. DOI：

Indirect measurement of X-ray spectrum[J]. 2008, (4): 503-508. DOI：

X光机的X射线能量谱在CT图像硬化校正、散射校正和定量CT成像等技术中扮演着重要角色。提出了一种通过由质量衰减系数已知的材料构成的楔型模体的扫描数据来恢复X射线能量谱的方法。经GEANT4模拟数据及实采数据验证

该方法能够较好地恢复X光机的X射线能量谱。通过仿真实验

分析了在几个常用电压下模体材质和厚度对恢复X射线能量谱的影响。

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