微通道板显微结构缺陷及机理研究

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微通道板显微结构缺陷及机理研究

光学工艺 | 更新时间：2025-09-01

- 微通道板显微结构缺陷及机理研究
- Microstructure defects of microchannel plate and its mechanism
- 光学技术 2008年第5期页码：670-673
- 作者机构：
  
  1. 1:西北工业大学理学院
  2. 2:北方夜视技术股份有限公司
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  总装预研项目(4040505101B)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2008
- 稿件说明：
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王益军, 严诚, 丛晓庆, 等. 微通道板显微结构缺陷及机理研究[J]. 光学技术, 2008,(5):670-673.

Microstructure defects of microchannel plate and its mechanism[J]. 2008, (5): 670-673.
王益军, 严诚, 丛晓庆, 等. 微通道板显微结构缺陷及机理研究[J]. 光学技术, 2008,(5):670-673. DOI：

Microstructure defects of microchannel plate and its mechanism[J]. 2008, (5): 670-673. DOI：

采用实芯工艺制备了微通道板

利用光学显微镜、SEM、EDS对微通道板结构缺陷的显微形貌和成分进行了分析

采用线胀系数和粘度测定仪测试了微通道板玻璃材料的物理特性。分析了产生复丝分离、亮点、污染点等结构缺陷的主要工艺因素。结果表明:复丝分离是由于实体边玻璃的变形温度(TS)低所引起

复丝边界的亮点由夹杂物产生

夹杂物主要是由复丝的玻璃粉屑形成。由于复丝分离和夹杂物的存在

使得抛光时复丝边界引入CeO2

形成污染点。提出了通过选用变形温度为655℃实体边材料

减少复丝表面微米级污染物等方法减少结构缺陷。

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