常温下高灵敏度灰体红外方向发射率测试技术研究

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光学工艺与光学测量 | 更新时间：2025-09-01

- 常温下高灵敏度灰体红外方向发射率测试技术研究
- Research on high sensitive test technology of infrared directional emissivities of grey body materials under room temperature
- 光学技术 2008年34卷第S1期页码：109-111
- 作者机构：
  
  1:北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2008
- 稿件说明：
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张李勇. 常温下高灵敏度灰体红外方向发射率测试技术研究[J]. 光学技术, 2008,34(S1):109-111.

Research on high sensitive test technology of infrared directional emissivities of grey body materials under room temperature[J]. 2008, 34(S1): 109-111.
张李勇. 常温下高灵敏度灰体红外方向发射率测试技术研究[J]. 光学技术, 2008,34(S1):109-111. DOI：

Research on high sensitive test technology of infrared directional emissivities of grey body materials under room temperature[J]. 2008, 34(S1): 109-111. DOI：

介绍了一种新颖的在常温下直接测量灰体表面方向发射率的方法。采用直接比对样品与参照物表面的光谱辐射率来测量方向发射率ε的绝对值。使用的传感器是热释电传感器

采用光学调制和锁相放大技术

实现对微弱信号的检测。设计的实验装置结构简单不需要制冷。在实验中

使用一块干净的浮法玻璃和氧化不锈钢作为测试样品

测试温度为50—200℃

将一块标定过的已知发射率为0.67的材料作为参照物。在没有制冷的条件下

与参照物和NPL数值、标定值相比较

实验得到的结果令人满意。

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