双线阵CCD交汇测量系统结构优化与精度分析

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光学工艺与光学测量 | 更新时间：2025-09-01

- 双线阵CCD交汇测量系统结构优化与精度分析
- Optimization on structure parameters and measuring precision analysis of intersection measuring system with dual liner CCD
- 光学技术 2008年34卷第S1期页码：29-31
- 作者机构：
  
  1:西安电子科技大学技术物理学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2008
- 稿件说明：
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汪大宝, 刘上乾, 王会峰. 双线阵CCD交汇测量系统结构优化与精度分析[J]. 光学技术, 2008,34(S1):29-31.

Optimization on structure parameters and measuring precision analysis of intersection measuring system with dual liner CCD[J]. 2008, 34(S1): 29-31.
汪大宝, 刘上乾, 王会峰. 双线阵CCD交汇测量系统结构优化与精度分析[J]. 光学技术, 2008,34(S1):29-31. DOI：

Optimization on structure parameters and measuring precision analysis of intersection measuring system with dual liner CCD[J]. 2008, 34(S1): 29-31. DOI：

双线阵CCD交汇测量系统在检测目标着靶点坐标方面具有十分广泛的应用。在介绍双线阵CCD交汇测量原理的基础上

综合分析了交汇测量精度与系统结构参数之间的关系

建立了相应的数学模型

给出了最优结构参数设计的方法。利用计算机仿真技术对其进行了分析

得出在相应技术指标要求情况下的最优化系统结构

并给出了靶面坐标测量误差的三维分布图。

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