Z-扫描技术的灵敏度分析

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Z-扫描技术的灵敏度分析

激光器与激光光学 | 更新时间：2025-09-01

- Z-扫描技术的灵敏度分析
- Analysis on sensitivity of Z-scan technique
- 光学技术 2009年35卷第2期页码：303-306
- 作者机构：
  
  1. 1:黑龙江科技学院电气与信息工程学院
  2. 2:哈尔滨工业大学航天学院
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  黑龙江科技学院引进人才启动基金资助项目(06-33)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2009
- 稿件说明：
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杜艳秋, 申作春, 王秀琴. Z-扫描技术的灵敏度分析[J]. 光学技术, 2009,35(2):303-306.

Analysis on sensitivity of Z-scan technique[J]. 2009, 35(2): 303-306.
杜艳秋, 申作春, 王秀琴. Z-扫描技术的灵敏度分析[J]. 光学技术, 2009,35(2):303-306. DOI：

Analysis on sensitivity of Z-scan technique[J]. 2009, 35(2): 303-306. DOI：

单光束激光Z-扫描技术是利用光束的横向特性来研究材料的光学非线性的

其灵敏度的提高有助于测量微弱折射率变化。从入射光束、调制方式、光束检测等方面论述了Z-扫描技术的灵敏度。顶环光束入射相对于标准Z-扫描技术的高斯光束入射其灵敏度可提高2.5倍

但要求光源的输出能量达到一定值

仅适用于测定较小的非线性相移;在光路中插入调制元件后放大因子可达到780

但调节光路难以调节焦移效应。利用CCD作为探测器的TPDZ-扫描技术能够测量小于λ/15000的非线性相位畸变

CCD能够充分获得光束的横向信息

有望成为另一种测量光学非线性的常用方法。

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