某型光谱成像仪CCD组件热设计及试验验证

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光学仪器与光学设计 | 更新时间：2025-09-01

- 某型光谱成像仪CCD组件热设计及试验验证
- Thermal design and proof test of CCD component in spectral imaging apparatus
- 光学技术 2008年34卷第S1期页码：58-59
- 作者机构：
  
  1:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2008
- 稿件说明：
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郭亮, 吴清文. 某型光谱成像仪CCD组件热设计及试验验证[J]. 光学技术, 2008,34(S1):58-59.

Thermal design and proof test of CCD component in spectral imaging apparatus[J]. 2008, 34(S1): 58-59.
郭亮, 吴清文. 某型光谱成像仪CCD组件热设计及试验验证[J]. 光学技术, 2008,34(S1):58-59. DOI：

Thermal design and proof test of CCD component in spectral imaging apparatus[J]. 2008, 34(S1): 58-59. DOI：

某型光谱成像仪是一台集多光学通道和多探测器于一身的复杂光学仪器

其光机结构、尺寸约束和载荷分布均呈非对称形式

整机热控十分复杂。CCD组件作为成像的重要组成部分

同时也是整机热控的难点

其热设计的好坏直接关系到成像的质量。讨论分析了某型光谱成像仪CCD组件热设计的特点

给出了CCD组件热设计方案

并通过试验对热设计方案进行了验证。

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