一种基于线结构光的五轴扫描测量系统

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一种基于线结构光的五轴扫描测量系统

光学测量、光学仪器与光学设计 | 更新时间：2025-09-01

- 一种基于线结构光的五轴扫描测量系统
- A structured light sensor based on five axis scanning system
- 光学技术 2009年35卷第4期页码：519-522
- 作者机构：
  
  1:中国海洋大学工程学院
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金资助项目(60772057)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2009
- 稿件说明：
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解则晓, 刘世晶, 王琨. 一种基于线结构光的五轴扫描测量系统[J]. 光学技术, 2009,35(4):519-522.

A structured light sensor based on five axis scanning system[J]. 2009, 35(4): 519-522.
解则晓, 刘世晶, 王琨. 一种基于线结构光的五轴扫描测量系统[J]. 光学技术, 2009,35(4):519-522. DOI：

A structured light sensor based on five axis scanning system[J]. 2009, 35(4): 519-522. DOI：

提出了一种由线结构光测头、三坐标测量机和两个数控回转工作台组成的五轴线结构光扫描测量系统。该系统通过两个回转工作台带动被测物体旋转

使线结构光测头能够测量到物体四周和顶部的各个区域。为了把从不同角度测量的数据拼合到一起

建立了数据自动拼接的数学模型

并通过测量标准球实现了对系统的标定。实验结果表明

该系统能在一次装夹下完成对复杂物体的完整测量

测量数据能自动拼合在一起

拼接精度达到了0.008mm。

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