基于单光束Z-scan技术的非线性测量技术的发展

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光学测量、光学仪器与光学设计 | 更新时间：2025-09-01

- 基于单光束Z-scan技术的非线性测量技术的发展
- Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique
- 光学技术 2009年35卷第4期页码：630-634
- 作者机构：
  
  1:黑龙江大学电子工程学院
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  中国博士后科学基金资助项目(20070410684)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2009
- 稿件说明：
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张立欣. 基于单光束Z-scan技术的非线性测量技术的发展[J]. 光学技术, 2009,35(4):630-634.

Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique[J]. 2009, 35(4): 630-634.
张立欣. 基于单光束Z-scan技术的非线性测量技术的发展[J]. 光学技术, 2009,35(4):630-634. DOI：

Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique[J]. 2009, 35(4): 630-634. DOI：

介绍了由Sheik-Bahae等人提出的、用于测量材料三阶非线性的单光束Z-scan技术。该技术能同时测量材料的非线性折射和非线性吸收

并能给出非线性折射的符号。介绍了以该技术为基础并经改进的几种测量技术:遮挡Z-scan

I-scan和微分Z-scan。引出了近10年来新发展的相位4f相干成像技术

并对其基本原理进行了阐述

分析了其应用特点。该技术具有使用单脉冲进行测量

光路简单

测量灵敏度高

无样品移动等特点。

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