基于改进双光阑法的光谱发射率装置的线性测量研究

李天硕; 陈新华; 冯国进; 郑春弟; 刘旭峰; 张振元

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基于改进双光阑法的光谱发射率装置的线性测量研究

光学传感与测量 | 更新时间：2026-01-05

- 基于改进双光阑法的光谱发射率装置的线性测量研究
- Linear measurement of spectral emissivity device based on improved double diaphragm method
- 光学技术 2025年51卷第6期页码：710-715
- 作者机构：
  
  1.北京建筑大学机电学院城市轨道交通车辆服役性能保障北京市重点实验室，北京 100044
  2.中国计量科学研究院光学与激光计量科学研究所，北京 100029
- 作者简介：
  
  李天硕（2000— ），男，硕士研究生，从事道路交通光谱逆反射研究。lts781929197@163.com
  chenxinhua@bucea.edu.cn
  fengguojin@nim.ac.cnr
- 基金信息：
  
  国家重点研发专项(2021YFF0600204)
- DOI：
  中图分类号： O433.1
- 收稿：2025-06-06，
  
  修回：2025-07-13，
  
  纸质出版：2025-11-20
- 稿件说明：
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李天硕,陈新华,冯国进等.基于改进双光阑法的光谱发射率装置的线性测量研究[J].光学技术,2025,51(06):710-715.

LI Tianshuo,CHEN Xinhua,FENG Guojin,et al.Linear measurement of spectral emissivity device based on improved double diaphragm method[J].OPTICAL TECHNIQUE,2025,51(06):710-715.
李天硕,陈新华,冯国进等.基于改进双光阑法的光谱发射率装置的线性测量研究[J].光学技术,2025,51(06):710-715. DOI：

LI Tianshuo,CHEN Xinhua,FENG Guojin,et al.Linear measurement of spectral emissivity device based on improved double diaphragm method[J].OPTICAL TECHNIQUE,2025,51(06):710-715. DOI：

摘要

针对真空低温状态下，材料光谱发射率测量装置的线性问题，提出了一种采用中红外中性光谱滤光片结合双光阑的方法评估了系统线性，给出了非等比点处发射率的线性度。实测了典型材料在60℃±1℃、80℃±1℃下，不同波长下的发射率测量系统的线性度。在60℃±1℃下，不同波长下的系统线性度在0.936~1.013，在80℃±1℃下，不同波长下的系统线性度在0.992~1.114。结果表明，波长为8μm、12μm、16μm时，发射率越低，对应的系统线性越差。依据该结果对材料真空低温发射率测量装置测量出的发射率进行线性修正，提高了测量结果的准确度。

Abstract

Aiming at the linearity problem of the material spectral emissivity measurement device under vacuum and low-temperature conditions

a method using a mid-infrared neutral spectral filter combined with a double diaphragm was proposed to evaluate the system linearity

and the linearity of the emissivity at the non-proportional points was given. The linearity of the emissivity measurement system for typical materials at different wavelengths at 60℃±1℃ and 80℃±1℃ was measured. At 60℃±1℃

the system linearity at different wavelengths is 0.936 to 1.013

and at 80℃±1℃

the system linearity at different wavelengths is 0.992 to 1.114. The results show that when the wavelengths are 8μm

12μm

and 16μm

the lower the emissivity

the worse the linearity of the corresponding system. Based on this result

the emissivity measured by the material vacuum low-temperature emissivity measurement device was linearly corrected

which improved the accuracy of the measurement results.

关键词

Keywords

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