利用位相信息的条纹微位移测量

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利用位相信息的条纹微位移测量

更新时间：2025-09-01

- 利用位相信息的条纹微位移测量
- Measurement of fringe shift using phase information
- 光学技术 2000年第2期页码：130-133
- 作者机构：
  
  1. 1:南开大学现代光学研究所教育部光电信息技术科学开放实验室,天津,300071
  2. 2:南开大学现代光学研究所教育部光电信息技术科学开放实验室,天津,300071
  3. 3:南开大学现代光学研究所教育部光电信息技术科学开放实验室,天津,300071
  4. 4:南开大学现代光学研究所教育部光电信息技术科学开放实验室!天
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.013
  中图分类号：
- 纸质出版：2000
- 稿件说明：
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罗罡, 方晖, 方志良, 等. 利用位相信息的条纹微位移测量[J]. 光学技术, 2000,(2):130-133.

Measurement of fringe shift using phase information[J]. 2000, (2): 130-133.
罗罡, 方晖, 方志良, 等. 利用位相信息的条纹微位移测量[J]. 光学技术, 2000,(2):130-133. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.013.

Measurement of fringe shift using phase information[J]. 2000, (2): 130-133. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.013.

详细讨论了在利用位相信息测量条纹亚像素级位移时

随机噪声、量化、像元尺寸和像元间隙对位移分辨力的影响

并给出了详尽的实验结果。采用一般CCD实现了 1/ 10像素的单次测量精度。

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