低温辐射计测量系统中的光路调整

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低温辐射计测量系统中的光路调整

更新时间：2025-09-01

- 低温辐射计测量系统中的光路调整
- Optical adjustment in cryogenic radiometer measurement system
- 光学技术 2000年第4期页码：334-336
- 作者机构：
  
  1. 1:中国计量科学研究院,北京,100013
  2. 2:中国计量科学研究院,北京,100013
  3. 3:中国计量科学研究院,北京,100013
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.014
  中图分类号：
- 纸质出版：2000
- 稿件说明：
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姚和军, 吕正, 林延东. 低温辐射计测量系统中的光路调整[J]. 光学技术, 2000,(4):334-336.

Optical adjustment in cryogenic radiometer measurement system[J]. 2000, (4): 334-336.
姚和军, 吕正, 林延东. 低温辐射计测量系统中的光路调整[J]. 光学技术, 2000,(4):334-336. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.014.

Optical adjustment in cryogenic radiometer measurement system[J]. 2000, (4): 334-336. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.014.

低温辐射计是目前光辐射测量不确定度最低的仪器。测量不确定度主要依赖于光路的调整和实验环境条件的控制。本文介绍了用低温辐射计测量激光功率的实验装置和调节方法

并提出了一种用直角棱镜观察、调节低温辐射计的新方法

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