CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究

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CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究

更新时间：2025-09-01

- CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究
- Study for the detection surface defects of the model by scanning with planar CCD array
- 光学技术 2000年第4期页码：337-338
- 作者机构：
  
  1. 1:清华大学精密仪器系,北京,100084
  2. 2:清华大学精密仪器系,北京,100084
  3. 3:清华大学精密仪器系,北京,100084
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.015
  中图分类号：
- 纸质出版：2000
- 稿件说明：
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刘兴占, 巩马理, 李伦. CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究[J]. 光学技术, 2000,(4):337-338.

Study for the detection surface defects of the model by scanning with planar CCD array[J]. 2000, (4): 337-338.
刘兴占, 巩马理, 李伦. CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究[J]. 光学技术, 2000,(4):337-338. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.015.

Study for the detection surface defects of the model by scanning with planar CCD array[J]. 2000, (4): 337-338. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.015.

介绍了用由面阵 CCD组成的单列阵扫描法测量大型显像管玻壳模具的表面裂纹和砂眼等缺陷。同时还介绍了用软件对图像进行拼接的方法

以及采用分维数理论对灰度值进行分割等数据处理技术

并获得了较好的实验结果。由实验结果表明

该方法的分辨率达到了 0 .0 5 mm。

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