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相干滤波成像系统测量光学元件表面疵病
更新时间：2025-09-01

    • 相干滤波成像系统测量光学元件表面疵病

    • Surface defects of the optical elements measured by the coherent filter imaging system

    • 光学技术   2000年第4期 页码：361-362

    • DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.023    

      中图分类号：

    • 纸质出版：2000

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  • 沈卫星. 相干滤波成像系统测量光学元件表面疵病[J]. 光学技术, 2000,(4):361-362. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.023.

    Surface defects of the optical elements measured by the coherent filter imaging system[J]. 2000, (4): 361-362. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.023.

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