SOI材料非对称脊型波导结构PDL标准样品研究

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导波光学 | 更新时间：2025-09-01

- SOI材料非对称脊型波导结构PDL标准样品研究
- Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide
- 光学技术 2010年36卷第5期页码：733-735
- 作者机构：
  
  1:中国计量科学研究院光学所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2010.05.017
  中图分类号：
- 纸质出版：2010
- 稿件说明：
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李健, 安俊明, 徐楠, 等. SOI材料非对称脊型波导结构PDL标准样品研究[J]. 光学技术, 2010,36(5):733-735.

Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide[J]. 2010, 36(5): 733-735.
李健, 安俊明, 徐楠, 等. SOI材料非对称脊型波导结构PDL标准样品研究[J]. 光学技术, 2010,36(5):733-735. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2010.05.017.

Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide[J]. 2010, 36(5): 733-735. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2010.05.017.

通过制备非对称结构SOI脊型波导

设计并优化得到一个偏振相关损耗标准样品

通过与标准单模光纤耦合封装

实现了偏振相关损耗测试仪表的快速校准。该器件偏振相关损耗值为0.58dB

测量重复性相对标准差为0.02

测量不确定度为0.2dB。

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