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低损耗薄膜背散仪吸光器的关键技术研究
仪器、测量与计量 | 更新时间:2025-09-01
    • 低损耗薄膜背散仪吸光器的关键技术研究

    • Study of key technology of the light absorption device of the low-loss instrument for measuring film backscattering

    • 光学技术   2011年37卷第2期 页码:213-216
    • DOI:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2011.02.025    

      中图分类号:
    • 纸质出版:2011

    移动端阅览

  • 吴慎将, 汪桂霞, 徐昌杰, 等. 低损耗薄膜背散仪吸光器的关键技术研究[J]. 光学技术, 2011,37(2):213-216. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2011.02.025.

    Study of key technology of the light absorption device of the low-loss instrument for measuring film backscattering[J]. 2011, 37(2): 213-216. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2011.02.025.

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相关作者

张吉焱
周桃庚
罗立鸿
李桂萍
杨林华
许杰
吕亮
樊其明

相关机构

1:北京理工大学光电学院
2:中国计量科学研究院
1:北京卫星环境工程研究所
1:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
2:北京卫星环境工程研究所
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