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1:清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室
纸质出版:2012
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秦垚, 王伯雄, 罗秀芝. 基于Zernike正交矩的亚像素图像线宽测量算法[J]. 光学技术, 2012,38(6):729-733.
Measurement algorithm for sub-pixel line width in images based on Zernike moment[J]. 2012, 38(6): 729-733.
秦垚, 王伯雄, 罗秀芝. 基于Zernike正交矩的亚像素图像线宽测量算法[J]. 光学技术, 2012,38(6):729-733. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2012.06.017.
Measurement algorithm for sub-pixel line width in images based on Zernike moment[J]. 2012, 38(6): 729-733. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2012.06.017.
针对图像内的细窄线宽
提出了一种基于Zernike正交矩的亚像素图像线宽检测算法。该算法具有明确的几何模型
通过计算图像的2阶和4阶Zernike正交矩
推导出了亚像素线宽表达式。根据数字图像的离散性
给出了计算正交矩所需的模板系数
并分析了由离散性造成的原理误差。将所提出的亚像素线宽检测技术应用于安瓿内异物粒径的标定实验
结果表明:该算法可有效地测量弱小目标在图像中的亚像素线宽值
从而得到了异物粒径大小与亚像素线宽之间的标定曲线。
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