提高基于CCD测量精度的新方法

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提高基于CCD测量精度的新方法

光学测量 | 更新时间：2025-09-01

- 提高基于CCD测量精度的新方法
- A new method for improving accuracy in CCD measurement
- 光学技术 2013年39卷第1期页码：82-86
- 作者机构：
  
  1:常州工学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2013.01.014
  中图分类号：
- 纸质出版：2013
- 稿件说明：
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唐土生, 李慧, 游庆祥. 提高基于CCD测量精度的新方法[J]. 光学技术, 2013,39(1):82-86.

A new method for improving accuracy in CCD measurement[J]. 2013, 39(1): 82-86.
唐土生, 李慧, 游庆祥. 提高基于CCD测量精度的新方法[J]. 光学技术, 2013,39(1):82-86. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2013.01.014.

A new method for improving accuracy in CCD measurement[J]. 2013, 39(1): 82-86. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2013.01.014.

为了提高基于CCD测量系统的测量精度

对传统的基于CCD的测量方法和测量精度进行了研究。当CCD成像平面与被测物体成一夹角α时

导出空间距离与图像像素之间的非线性关系。提出了通过标定和校准来提高基于CCD测量精度的新方法。实际结果表明

该方法可满足对大尺寸物体的高精度测量。

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