透射波前测量中寄生条纹的产生原理及移除方法

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光学测量 | 更新时间：2025-09-01

- 透射波前测量中寄生条纹的产生原理及移除方法
- Cause and remove method of spurious fringes in measuring transmit wavefront
- 光学技术 2014年40卷第6期页码：543-546
- 作者机构：
  
  1:中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2014.06.013
  中图分类号：
- 纸质出版：2014
- 稿件说明：
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郑芳兰, 刘勇, 刘旭, 等. 透射波前测量中寄生条纹的产生原理及移除方法[J]. 光学技术, 2014,40(6):543-546.

Cause and remove method of spurious fringes in measuring transmit wavefront[J]. 2014, 40(6): 543-546.
郑芳兰, 刘勇, 刘旭, 等. 透射波前测量中寄生条纹的产生原理及移除方法[J]. 光学技术, 2014,40(6):543-546. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2014.06.013.

Cause and remove method of spurious fringes in measuring transmit wavefront[J]. 2014, 40(6): 543-546. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2014.06.013.

在平行平板类元件透射波前的测量过程中

在干涉强度图上有时会产生寄生条纹

会给透射波前的测量引入较大的误差。阐述了寄生条纹的产生机理

仿真分析了寄生条纹对透射波前测量误差的影响

介绍了调节移除寄生条纹的方法。对一平板类透射元件进行了实验对比

分别测量了在具有寄生条纹时和移除寄生条纹后的透射波前。根据对比结果可以看出

该调节方法能有效地消除寄生条纹对透射波前测量的影响

使测量结果能更真实地反应出元件透射波前的分布。

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