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TDX-200TEM物镜磁路缺陷对物镜性能影响研究
光学仪器与光学设计 | 更新时间：2025-09-01

    • TDX-200TEM物镜磁路缺陷对物镜性能影响研究

    • Study on the influence of magnetic circuit defect on objective lens performance

    • 光学技术   2015年41卷第1期 页码：81-84

    • DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2015.01.017    

      中图分类号：

    • 纸质出版：2015

    移动端阅览

  • 刘雪萍, 董全林, 张秀艳. TDX-200TEM物镜磁路缺陷对物镜性能影响研究[J]. 光学技术, 2015,41(1):81-84. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2015.01.017.

    Study on the influence of magnetic circuit defect on objective lens performance[J]. 2015, 41(1): 81-84. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2015.01.017.

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1:内江师范学院工程技术学院
1:北京理工大学光电学院
3:国家"惯性技术"重点实验室
2:精密光机电一体化技术教育部重点实验室
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