红外热成像法测量薄膜热物理参数

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红外热成像法测量薄膜热物理参数

光学图像处理 | 更新时间：2025-09-01

- 红外热成像法测量薄膜热物理参数
- Measurement of thermophysical parameters of films by infrared thermography
- 光学技术 2019年45卷第6期页码：641-646
- 作者机构：
  
  1. 1:北京理工大学光电学院目标仿真实验室
  2. 2:精密光电测试仪器与技术北京重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(61875011)
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.06.001
  中图分类号：
- 纸质出版：2019
- 稿件说明：
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徐立强, 王欣, 赵乾, 等. 红外热成像法测量薄膜热物理参数[J]. 光学技术, 2019,45(6):641-646.

Measurement of thermophysical parameters of films by infrared thermography[J]. 2019, 45(6): 641-646.
徐立强, 王欣, 赵乾, 等. 红外热成像法测量薄膜热物理参数[J]. 光学技术, 2019,45(6):641-646. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.06.001.

Measurement of thermophysical parameters of films by infrared thermography[J]. 2019, 45(6): 641-646. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.06.001.

研究了一种利用稳态红外热成像法实现自悬浮薄膜面内热导率测量的方法。从一维热传导方程出发

建立了稳态时薄膜表面温度分布的理论模型

利用稳态理论模型

只需测量薄膜边缘温度及厚度

便可同时得到面内热导率、发射率及热流

无需测量薄膜对可见光的吸收率。仿真表明

当薄膜的温升不超过5K时

可以保证拟合得到的面内热导率与理论值的误差低于3%

薄膜样品x方向的最小尺寸为6mm。对厚度为900nm的自悬浮聚酰亚胺薄膜进行实验测量

拟合得到的面内热导率为2.04W/mK、红外发射率为0.92、x=0处的热流为1.77×10~4W/m~2。实验结果与查阅文献的测量值一致

证明方法可以用来测量自悬浮薄膜的面内热导率。

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