基于局部梯度插值的显微热成像系统微扫描误差修正技术

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光学图像处理 | 更新时间：2025-09-01

- 基于局部梯度插值的显微热成像系统微扫描误差修正技术
- Thermal microscope imaging system microscanning error correction technique based on local gradient interpolation
- 光学技术 2019年45卷第6期页码：724-729
- 作者机构：
  
  1:燕山大学信息科学与工程学院河北省特种光纤与光纤传感重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金资助项目(61971373);河北省自然科学基金(F2019203440);秦皇岛市重点研发计划科技支撑项目(201801B010);河北省教育厅在读研究生创新能力培养资助项目(CXZZSS2019050)
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.06.014
  中图分类号：
- 纸质出版：2019
- 稿件说明：
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高美静, 王留柱, 谈爱玲, 等. 基于局部梯度插值的显微热成像系统微扫描误差修正技术[J]. 光学技术, 2019,45(6):724-729.

Thermal microscope imaging system microscanning error correction technique based on local gradient interpolation[J]. 2019, 45(6): 724-729.
高美静, 王留柱, 谈爱玲, 等. 基于局部梯度插值的显微热成像系统微扫描误差修正技术[J]. 光学技术, 2019,45(6):724-729. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.06.014.

Thermal microscope imaging system microscanning error correction technique based on local gradient interpolation[J]. 2019, 45(6): 724-729. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.06.014.

显微热成像系统可观测、记录分析细微目标的温度变化过程

在需要细微热分析的诸多方面有着广泛的发展前景。由于设备加工及工作过程中存在误差

影响微扫描系统的精度

使得微扫描系统扫描过程中偏离标准位置

故采集得到的四幅低分辨力图像会存在误差

最终影响显微热成像系统高分辨力图像的重建质量。为尽可能降低微扫描误差

文章提出了基于局部梯度插值与预处理相结合的微扫描误差修正技术

通过进行模拟仿真和实验证实该技术可以降低系统微扫描误差

提高系统的空间分辨力。

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