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基于标志点的三维拼接立体偏折法
光学测量 | 更新时间:2025-09-01
    • 基于标志点的三维拼接立体偏折法

    • Three-dimensional stitching of stereo-deflectometry based on marker

    • 光学技术   2021年47卷第1期 页码:45-49
    • DOI:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.01.009    

      中图分类号:
    • 纸质出版:2021

    移动端阅览

  • 万新军, 陈红豆, 苏程程, 等. 基于标志点的三维拼接立体偏折法[J]. 光学技术, 2021,47(1):45-49. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.01.009.

    Three-dimensional stitching of stereo-deflectometry based on marker[J]. 2021, 47(1): 45-49. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.01.009.

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1:中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
2:中国科学院天文光学技术重点实验室(南京天文光学技术研究所)
3:中国科学院大学
1:昆明理工大学信息工程与自动化学院
1:北京空间机电研究所空间光学工程中心
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