双线阵CCD光学拼接与误差分析研究

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双线阵CCD光学拼接与误差分析研究

光学器件及系统设计 | 更新时间：2025-09-01

- 双线阵CCD光学拼接与误差分析研究
- Research on optical splicing system and error of double-line array CCD
- 光学技术 2021年47卷第2期页码：159-162
- 作者机构：
  
  1. 1:长安大学电子与控制工程学院
  2. 2:陕西淼沐环保工程有限公司
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  “十三五”国家重点研发计划项目(SQ2018YFB16003105);中央高校基本科研业务费创新团队培育项目(CHD 300102329401)
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.02.006
  中图分类号：
- 纸质出版：2021
- 稿件说明：
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何娜娜, 艾雪雯. 双线阵CCD光学拼接与误差分析研究[J]. 光学技术, 2021,47(2):159-162.

Research on optical splicing system and error of double-line array CCD[J]. 2021, 47(2): 159-162.
何娜娜, 艾雪雯. 双线阵CCD光学拼接与误差分析研究[J]. 光学技术, 2021,47(2):159-162. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.02.006.

Research on optical splicing system and error of double-line array CCD[J]. 2021, 47(2): 159-162. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.02.006.

基于线阵CCD的图像测量技术是当前工程应用中的一个重要领域

针对当前高精度大动态范围测量和标准线阵CCD测量范围及线阵CCD几何结构之间的矛盾

提出了一种高精度大范围的线阵CCD测量拼接方案。利用半反半透镜平面反射原理设计了双线阵CCD高精度拼接的光学拼接系统的光机结构原理

给出了重叠像元的标定原理

对其标定和拼接误差进行了分析。通过拼接系统的实验室长期实验结果表明:方案拼接简单

实用可靠

系统的整体拼接误差约为0.019mm

且拼接不存在漏缝现象

拼接精度满足高精度测量的要求。拼接方案对高精度、大动态范围CCD测量实际应用有一定的参考意义。

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