基于弹光调制的双折射测试系统数据处理研究

杜洽伟; 李克武; 王志斌

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008

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基于弹光调制的双折射测试系统数据处理研究

光学测量 | 更新时间：2025-09-01

- 基于弹光调制的双折射测试系统数据处理研究
- Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation
- 光学技术 2023年49卷第1期页码：64-69
- 作者机构：
  
  1. 1:中北大学仪器与电子学院
  2. 2:中北大学前沿交叉科学研究院
  3. 3:中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(62205310);山西省自然科学基金(201901D211234)
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008
  中图分类号： TH74
- 纸质出版：2023
- 稿件说明：
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杜洽伟, 李克武, 王志斌. 基于弹光调制的双折射测试系统数据处理研究[J]. 光学技术, 2023,49(1):64-69.

Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation[J]. 2023, 49(1): 64-69.
杜洽伟, 李克武, 王志斌. 基于弹光调制的双折射测试系统数据处理研究[J]. 光学技术, 2023,49(1):64-69. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008.

Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation[J]. 2023, 49(1): 64-69. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008.

摘要

干涉法和补偿法等双折射测量方法需要转动待测样品或偏振元件，操作不便、测量速度慢、精度有限。提出了一种双弹光调制与上位机组成的双折射系统。由弹光调制来产生调制信号，加载待测样品信息，调制信号采集至上位机中进行数据处理，进一步完成延迟量和快轴方位角求解。对测试方案原理进行分析，重点进行了系统数据处理的上位机设计与实现，完成了软硬件系统搭建。采用1/4波片进行了实验测试，实验结果表明延迟量测量相对误差为2%

快轴方位角测量相对误差为0.4%

延迟量和快轴方位角的标准差分别为0.056nm和0.022°。

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DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008

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