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高压陶瓷套管裂纹缺陷太赫兹检测研究
太赫兹技术 | 更新时间:2025-09-01
    • 高压陶瓷套管裂纹缺陷太赫兹检测研究

    • Research on terahertz testing for crack defects in high voltage ceramic sleeve

    • 光学技术   2025年51卷第3期 页码:309-315
    • DOI:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2025.03.005    

      中图分类号: TM216.5;O441.4
    • 纸质出版:2025

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  • 陈巳阳, 翟迪, 王浩, 等. 高压陶瓷套管裂纹缺陷太赫兹检测研究[J]. 光学技术, 2025,51(3):309-315. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2025.03.005.

    Research on terahertz testing for crack defects in high voltage ceramic sleeve[J]. 2025, 51(3): 309-315. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2025.03.005.

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1:兰州交通大学自动化与电气工程学院
2:兰州交通大学光电技术与智能控制教育部重点实验室
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